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EM - 30
Asequible. compacto. alta resolución. robusto
Es un instrumento de precisión que se puede utilizar para analizar las formas o los constituyentes de los materiales de la microestructura en forma cuantitativa y cualitativa a escala nm. Es una herramienta esencial para la visualización y mediciones precisas de nanoestructuras. Ofrece un equilibrio perfecto entre la accesibilidad y el rendimiento, especialmente cuando las imágenes sub-nanométricas se están convirtiendo en un estándar. Este instrumento está diseñado para mantener la robustez, la accesibilidad y la facilidad de uso.
El SEM es una herramienta verdaderamente multidisciplinaria de metrología y de la industria en innumerables campos de ingeniería e investigación y se utiliza en química, biología, ciencia de materiales y nanomateriales y nanobiología.
ESPECIFICACIONES
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Imágenes precisas y de alta calidad con una resolución de 14 nm o superior
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Representación precisa de materiales a nanoescala.
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Enfoque automático y enfoque fino
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Memoria de posición del escenario
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Memoria del filamento
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Auto etapa, click y mover
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Portátil, diseñado para caber incluso en espacio de laboratorio pequeño
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Diseño modular
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