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EM - 30

Asequible. compacto. alta resolución. robusto

Es un instrumento de precisión que se puede utilizar para analizar las formas o los constituyentes de los materiales de la microestructura en forma cuantitativa y cualitativa a escala nm. Es una herramienta esencial para la visualización y mediciones precisas de nanoestructuras. Ofrece un equilibrio perfecto entre la accesibilidad  y el rendimiento, especialmente cuando las imágenes sub-nanométricas se están convirtiendo en un estándar. Este instrumento está diseñado para mantener la robustez, la accesibilidad y la facilidad de uso. 

 

El SEM es una herramienta verdaderamente multidisciplinaria de metrología y de la industria en innumerables campos de ingeniería e investigación y se utiliza en química, biología, ciencia de materiales y nanomateriales y nanobiología.

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ESPECIFICACIONES

  • Imágenes precisas y de alta calidad con una resolución de 14 nm o superior

  • Representación precisa de materiales a nanoescala.

  • Enfoque automático y enfoque fino

  • Memoria de posición del escenario

  • Memoria del filamento

  • Auto etapa, click y mover

  • Portátil, diseñado para caber incluso en espacio de laboratorio pequeño

  • Diseño modular

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