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NP - AFM
Un instrumento mecano-óptico que forma imágenes de las superficies utilizando una sonda o micropalanca, esta recorre la muestra haciendo una exploración línea por línea, es decir escanea la muestra en función de la posición generando una imagen.
El NP-AFM es una herramienta completa de nanoprofiltros que incluye todo lo necesario para escanear muestras: platina de microscopio, caja electrónica, computadora de control, sondas, manuales y un microscopio de video.
Las muestras de hasta 200 x 200 x 20 mm son perfiladas por el sistema NP - AFM, y hay varias opciones de etapas disponibles para muchos tipos de muestras.
ESPECIFICACIONES
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Nanoprofiler AFM para muestras técnicas, obleas y discos.
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Tres opciones de etapa de muestra para acomodar sustratos de hasta 200 x 200 x 20 mm
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Microscopio de video integrado de alta resolución.
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Escáner piezoeléctrico XY linealizado
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Se adapta a sondas AFM de tamaño estándar
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Incluye modos topográficos vibratorios y no vibrantes, además de imágenes de modo de fuerza lateral y fase.
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Utiliza un enfoque de sonda motorizada de accionamiento directo.
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Captura imágenes con software intuitivo basado en LabVIEW ™
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