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ACST - AFM
Un instrumento mecano-óptico que forma imágenes de las superficies utilizando una sonda o micropalanca, esta recorre la muestra haciendo una exploración línea por línea, es decir escanea la muestra en función de la posición generando una imagen.
El microscopio de fuerza atómica (AFM, por sus siglas en inglés) de ACST es un instrumento de vanguardia y ha sido diseñado con un enfoque de abajo hacia arriba, tanto por su facilidad de uso como por su robustez. Es una herramienta verdaderamente multidisciplinaria de metrología y de la industria.
Instrumento robusto y multimodo preparado para investigación y educación (vibración, no vibración, LFM, conductividad y litografía)
ESPECIFICACIONES
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Modos: Vibración, no vibración, fase, microscopía de fuerza lateral (LFM)
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Resolución de la unidad Z <0.075 nm
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Rango de escaneo de 50 micrones
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Resolución de la unidad XY: bucle abierto de 1 nm
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Cámara color CCD de 3 mega píxeles.
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Microscopio de video (45x - 400x)
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Escáner X-Y lineal de 60 μm.
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Cargador de sonda fácil
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