top of page
SA - AFM
Un instrumento mecano-óptico que forma imágenes de las superficies utilizando una sonda o micropalanca, esta recorre la muestra haciendo una exploración línea por línea, es decir escanea la muestra en función de la posición generando una imagen.
Utilice el SA-AFM para escanear muestras de ciencias de la vida, muestras grandes, escaneo de rutina de muestras técnicas o para la investigación en nanotecnología.
El SA-AFM es un sistema completo e incluye todo lo necesario para escanear todos los tamaños y formas de muestras. Se integra fácilmente con los microscopios invertidos de todos los fabricantes.
ESPECIFICACIONES
-
Diseño flexible e independiente
-
Escanea cualquier tamaño de muestra
-
Adaptable a microscopios invertidos.
-
Escáner piezoeléctrico XY linealizado
-
Se adapta a la gama más amplia de sondas AFM estándar
-
Todos los modos estándar, incluyendo vibración, no vibración y fase
-
Sonda motorizada de accionamiento directo.
-
Software intuitivo basado en LabVIEW para captura de imágenes
bottom of page